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 Score Residual Gauge易拉盖刻线检测仪 刻线是易拉盖的重要部份，刻线残留量太厚，开罐时拉环容易断，残留量太小，密封不安全，容易甚至泄漏。至今为此，采用景深显微镜的系统取决于操作人员的技术程度，它们用一个外加的显示屏和测微计对刻线槽进行聚焦。由于不同的操作人员会对刻线不同地方聚焦，从而使得测量结果可重复性差，通常会有±5~7微米的误差。 QBYV推出的易拉盖刻线检测仪，采用创新的方法，结合切边光学、激光技术及先进的软件处理，减少测量过程中人为的影响。该系统不仅有效地改进了检测结果的可重复性，同时还比基它系统的价格更低。 该系统可以直接与电脑联接，不需要任何外围设备如解码器、外设显示屏，因而大大减少了成本和维修费用。 性能： 分辨率：1微米 景深: 2微米或更好 盖子直径：48~105mm 范围：0~3mm |
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